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标签:SLT

在数据中心中寻找硬件相关错误
通过安妮Meixner- 07年2月,2023 -评论:2

半导体行业迫切追求设计、监控和测试策略来帮助识别和消除硬件缺陷,可能会导致灾难性的错误。腐败的执行错误,也被称为沉默的数据错误,不能完全孤立与系统级测试——测试——甚至因为他们只出现在特定的条件下。解决环境康迪特……»阅读更多

扫描模式的可移植性从PSV吃SLT坚持
通过灰帕特尔1月30日,2023 -评论:0

由火山灰Patel和恋人Natarajan芯片测试变得越来越复杂,由于存在大量的变量影响的设计——从设计规模和复杂性,先进技术节点上的晶体管数量,2.5 d / 3 d包装,制造变化。所有这些使测试今天的芯片和包比以往更加复杂。测试pa的数量……»阅读更多

采用新兴技术正推动系统级测试
通过纳塔尔省的z . Der2023年1月- 10 -评论:0

与半导体晶体管的大小减少芯片复杂度成倍增加,半导体测试已经成为基本确保只有高质量的产品去市场。通过引入更严格的可接受的质量水平(AQL)认证,测试方法必须不断改进,以满足这些标准,和系统级测试(SLT)和传统测试……»阅读更多

系统级测试——底漆
通过Teradyne- 07年6月,2022 -评论:0

作为半导体几何图形变得更小和更大的复杂性是推进芯片或包,系统级测试(SLT)变得至关重要。SLT正在测试一种测试设备(DUT),它用于最终使用系统,仅仅使用它,而不是创建测试向量,用传统的自动化测试设备(吃)。测试仍然写但以不同的方式…皮特……»阅读更多

其中驱动芯片质量和系统级测试
通过布来安梅奥- 08年3月,2022 -评论:0

传统的半导体测试通常包括测试执行自动测试设备(吃)。但是工程师们开始忙额外late-test通过,测试systems-on-chip (soc)的系统上下文,以最终产品装配前发现设计问题。“系统级测试(SLT)给出了一个大容量环境中,您可以测试的硬件和软件toge……»阅读更多

SLT使转向正确的测试内容
通过戴夫•阿姆斯特朗8月- 10,2021 -评论:0

由戴夫•阿姆斯特朗Davette贝瑞,克雷格·斯奈德增加设备复杂性和持续推动更高水平的质量促进复议的测试策略。是有效的,测试工程师必须选择如何优化部署测试内容,从晶圆到系统级测试(SLT)。2019年3月TestConX presentation1概述了如何测试内容通常是紧密相联的……»阅读更多

追逐测试IC制造业逃
通过安妮Meixner2021年5月- 11 -评论:0

坏芯片的数量单通过测试和最终可以显著减少这些设备之前离开工厂,但成本的急剧发展中必要的测试和分析数据采用有限。确定一个可接受的测试逃脱度量的IC芯片制造业yield-to-quality比率提高至关重要,但到底是什么…»阅读更多

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