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作者最新文章


扫描模式可移植性从PSV到ATE到SLT到IST


由于影响设计的变量数量越来越多,芯片测试变得越来越复杂——从设计尺寸和复杂性,到先进技术节点上的高晶体管计数,到2.5D/3D封装,再到制造可变性。所有这些结合在一起,使得测试当今的芯片和封装比以往任何时候都更加复杂。测试pa的数量…»阅读更多

使用路径裕度监视器优化Vmin


为半导体器件中的各种数字块选择合适的工作电压是芯片设计人员面临的最重要的任务之一。工作电压对性能、功耗和可靠性有重要影响。提高电压通常会提高性能,但代价是更多的功率和更高的运行寿命,因为…»阅读更多

利用功能接口在硅生命周期的所有阶段进行高速测试访问


芯片测试过去很简单。开发团队使用故障模拟来选择功能测试的子集,以检测最可能的制造故障。这些转换为在自动测试设备(ATE)上运行的测试模式,以筛选晶圆测试中的缺陷模具和最终测试中的不良封装芯片。随着时间的推移,许多新技术被引入,包括……»阅读更多

缩小后硅时序分析的差距


精确的静态时序分析是先进节点半导体器件发展的重要步骤之一。性能数字包括在芯片和系统规格从最早的市场需求。架构师和设计人员仔细确定时钟周期时间,可以实现所需的性能使用所选的高级架构,微架构…»阅读更多

如果这些芯片可以说话:路径裕度监视器的可操作见解


目前电子行业最重要的趋势之一是收集和分析大数据,以在成本、功耗、性能和可靠性方面获得收益。这在芯片开发流程中变得越来越普遍。例如,从模拟回归中获得的数据可以帮助调试和达到覆盖目标。机器学习(ML)使用多次通过实现的结果(lo…»阅读更多

下一波soc定制设计中的新寄生萃取要求


5G、生物技术、AI和汽车等快速增长的市场正在推动半导体设计的新浪潮,以及对高度集成的芯片系统(soc)的需求。电源管理、传感器、射频和精密模拟功能都集成在同一衬底上,这对定制设计工具提出了新的挑战。具体来说,寄生萃取面临着新的挑战。»阅读更多

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