系统信息:8月23日

保护物联网设备;黑客攻击的保护;芯片实验室。

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对物联网设备安全监控边信道信号
由于国防高级研究计划局(DARPA)格兰特,佐治亚理工学院研究人员正在开发一种新的技术,无线监控物联网设备恶意的软件——无处不在的,在不影响操作和低功耗设备。

团队说,这项技术将依赖于接收和分析边信道信号,电磁排放无意中产生的电子设备,因为他们执行程序。这些信号是由半导体、电容器、电力供应和其他组件,目前可以测量到半米远离操作物联网设备。

监测边信道输出电子设备可以提供物联网设备的检测恶意软件感染的一种手段。(来源:佐治亚理工学院)

监测边信道输出电子设备可以提供物联网设备的检测恶意软件感染的一种手段。(来源:佐治亚理工学院)

通过比较这些意想不到的边信道排放到一个数据库的设备应该做正常操作时,研究人员可以告诉如果已经安装恶意软件。

他们会研究这个项目是如何改变其行为,如果一个物联网设备攻击,恶意软件的插入会影响正在运行的程序,远程和能被探测到的。

早期的原型边信道技术的细节,称为“Zero-Overhead分析”,因为被观测系统监控并不影响已经提出。

用它来记下网络犯罪
一个苏黎世联邦理工学院分拆,xorlab——是开发一个安全解决方案,提供了更有效的防止黑客攻击,和即将经历重要试验在真实的商业环境。

乙分拆已经开发出一种系统,渴望成为更可靠和更便宜比传统解决方案保护公司和政府免受黑客攻击。

由于网络犯罪不断调整自己的行为以适应不断变化的环境,很难探测入侵者的系统。虽然大多数传统安全解决方案关注可疑活动在一个IT系统,未经授权的入侵,xorlab集中筛选应用程序和执行这个任务的正常行为那么精心,它可以立即发现任何可疑的活动。因此,它可以隔离恶意文件和网站才能妥协公司的it基础设施。

这个设备,Xorlab想让cyperspace一个安全的地方。(来源:Xorlab)

这个设备,Xorlab想让cyperspace一个安全的地方。(来源:Xorlab)

硬件由xorlab, mini-server重31公斤。

"纳米材料安全检查
预测有潜在危险的纳米材料,加州大学洛杉矶分校研究人员设计了一个实验室测试使用芯片技术。

根据加州大学洛杉矶分校教授欢孟,某些工程纳米材料,如non-purified碳纳米管用于加强商业产品,可能有可能伤害在制造过程中如果吸入肺部。他帮助开发新的测试可以用来分析潜在危险的程度。

相同的测试也可以用来识别生物标志物,可以帮助科学家和医生检测癌症和传染病,他们说。目前,科学家使用其他测试识别这些生物标志物;最常见的一种叫做酶联免疫吸附试验,或ELISA。但是新的平台,叫做半导体电子label-free化验,或者SELFA,减少成本,更快、更准确,根据发表在《科学》杂志上的研究报告。

SELFA使用芯片技术分析样品比其他现有方法更准确,并在30分钟。(来源:加州大学洛杉矶分校)

SELFA使用芯片技术分析样品比其他现有方法更准确,并在30分钟。
(来源:加州大学洛杉矶分校)

相比之下,研究小组解释说,SELFA使用微芯片技术来分析样本。测试可以在30分钟至两个小时,并可能花费几美元每样品时开始大批量生产。

SELFA芯片包含一个丁字形的纳米线,作为一个集成的传感器和放大器。分析样本,科学家们把它放在一个传感器芯片。的垂直部分t形纳米线转换当前的分子被分析,和水平的部分放大信号区分别人的分子。



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