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解决高精度自动光学检查与3 d技术挑战

新功能在AOI系统随着3 d成像的出现会增加检查用户的信心。

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由持续减少电子产品包装的大小,结合密度的增加,关键需要高度精确的3 d检查缺陷检测。

使用多视点三维传感器和平行投影,可以捕获更多的板速度比串行图像采集哪个更费时。精确的三维图像表示可以使用先进的融合算法,生成多个抓取的图像和融合成一个精确的三维图像。结果是高速3 d检查。

Multi-reflection抑制(夫人)技术使高度精确的3 d测量通过精心识别和拒绝反射引起的闪亮的组件和反光的焊点。夫人算法使用一个非常富有的数据集从多个摄像机在每一个位置。结合先进的算法,融合多个摄像头的图像数据,多次反射有效地抑制。相比之下,三维传感解决方案,使用三角测量照明没有夫人遇到测量精度问题,因为焊点创建多个反射可以高度腐败的形象。这种技术是一个关键的构件实现高精度生产速度自动光学检测(AOI)系统。

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