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作者最新文章

案例研究-三维线键合检验与计量
通过CyberOptics- 2022年4月12日-意见:0

现代汽车中电子设备的数量不断增加，使得电线键合的检查过程越来越具有挑战性，因为有源器件会缩小，键合的排列方式也很复杂。CyberOptics解决了自动化解决方案的需求，以取代对线键合和回路高度的劳动密集型和不精确的人工检测方法。经过对竞争产品的考虑，……»阅读更多

案例研究-深度学习在集成电路上的角填充检测和计量
通过CyberOptics- 2021年12月7日-评论:0

CyberOptics公司利用深度学习技术，对一家大型内存供应商生产的集成电路(ic)上的角填充进行了精确检测。传统的检查方法在完全检测填充物的存在和不存在的能力方面显示出局限性，这表明有必要采用更先进的方法。CyberOptics利用其庞大的算法和神经网络专业知识……»阅读更多

工业射线照相。计量应用的CT扫描
通过CyberOptics- 2021年11月9日-评论:0

x射线技术，更具体地说，计算机断层扫描(CT)，已适用于作为一种仪器的工业计量。早期采用者很快就认识到3D缺陷检测和几何分析的内部和外部无损检测的好处，而那些考虑采用的人可能不确定如何有效地实现该技术。这项研究是为了…»阅读更多

用独特的3D技术解决方案解决高精度自动化光学检测挑战
通过CyberOptics- 2021年9月7日-评论:0

在电子封装尺寸不断减小的驱动下，再加上密度的增加，迫切需要高精度的三维检测来检测缺陷。使用多视图3D传感器和并行投影，与串行图像采集相比，可以以更快的速度捕获更多的电路板，而串行图像采集更耗时。精确的三维图像r…»阅读更多

在线机载粒子传感支持对污染的快速响应
通过CyberOptics- 2021年8月9日-评论:0

细颗粒(直径小于5微米)不会影响大多数工业过程，但它们会对半导体制造产生灾难性的影响。从最早的时候起，制造设施就部署了空气过滤和再循环来清除洁净室中的颗粒，但颗粒仍然可能在加工工具内部产生，在那里它们可能导致缺陷并产生…»阅读更多

案例研究:监测湿度以减少网格雾霾影响
通过CyberOptics- 2020年11月9日-评论:0

理解十字线雾霾:如果没有适当的控制措施，浸入式技术扫描仪会受到一种叫做“雾霾”的不利现象的影响。雾霾是由三个具体因素共同造成的:点击这里继续阅读。»阅读更多

解决光刻扫描仪中的粒子问题
通过CyberOptics- 2020年10月12日-评论:0

案例研究:在光刻扫描仪中快速识别空气中颗粒的来源是至关重要的——既要协调又要确认清洁和维修的效果。遗憾的是，大多数检测粒子的传统方法都难以主动解决粒子问题。以原位方法为例。传统的原位扫描仪不能提供…»阅读更多

纳米分辨率MRS传感器:用于先进半导体封装应用的快速，精确的3D检测和测量
通过CyberOptics- 2020年9月8日-评论:0

半导体封装行业不断发展，新的设计增加了更多的层、更精细的功能和更多的I/O通道，以实现更快的连接、更高的带宽和更低的功耗。随着封装技术的发展，制造商已经改变了旧的工艺，采用了新的工艺来连接芯片彼此和外部世界。通常这些新工艺…»阅读更多

案例研究-插座计量学
通过CyberOptics- 2020年8月11日-评论:0

从几小时到几秒，SQ3000三坐标测量机优化了客户的后端检测和插座计量，降低了成本，提高了大批量生产的产量。我们的客户利用坐标测量机(CMM)来处理插座计量、半导体夹具和手机传感器所需的复杂测量。点击这里继续阅读。»阅读更多

纳米分辨率MRS传感器为先进的半导体封装应用提供快速、精确的3D检测和测量
通过CyberOptics- 2020年6月8日-评论:0

半导体封装行业不断发展，新的设计增加了更多的层、更精细的功能和更多的I/O通道，以实现更快的连接、更高的带宽和更低的功耗。随着封装技术的发展，制造商已经改变了旧的工艺，采用了新的工艺来连接芯片彼此和外部世界。通常这些新工艺…»阅读更多

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