案例研究——深度学习角落填充检验和计量集成电路


CyberOptics利用深度学习准确检查角落填充在集成电路(ic)产生的大内存供应商。传统方法检验显示限制的能力完全检测的存在和没有填补,表明一个更先进的方法是必要的。CyberOptics画了大量的算法和神经网络的专业知识……»阅读更多

解决高精度自动光学检查与3 d技术挑战


由持续减少电子产品包装的大小,结合密度的增加,关键需要高度精确的3 d检查缺陷检测。使用多视点三维传感器和平行投影,可以捕获更多的板速度比串行图像采集哪个更费时。精确的三维图像重新…»阅读更多

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