一个问题以前局限于模拟电路已成为一个关键设计考虑在10/7nm数字设计。
阿南德•拉曼Helic高级主管讨论电磁干扰的影响在数字设计10/7nm和超越。局限于模拟空间后,噪声突然一个问题在高级节点的设计。问题的根源是较小的节点,增加速度和更高水平的集成。
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增加复杂性,崩溃,继续功能收缩增加问题;监督不足。
学术界、业界伙伴关系斜坡来诱使大学生硬件工程。
包装和检验公司吸引资金;124年初创公司筹集超过23亿美元。
球继续减少,但是需要新的工具和技术。
埋藏特征和凹角几何图形驱动应用程序特定的计量解决方案。
现有的工具可以用于RISC-V,但他们可能不是最有效或高效。还有什么需要?
行业取得了理解老龄化如何影响可靠性,但更多的变量很难修复。
技术和业务挑战依然存在,但势头正在建设。
Gate-all-around将取代finFET,但它会产生一系列的挑战和未知。
一个处理器的验证是更复杂的比同等规模的ASIC,和RISC-V处理器把这一层复杂性。
新的内存标准增加了巨大的好处,但它仍然是昂贵和复杂。这可能会改变。
该行业似乎认为这是一个真正的目标开放的指令集架构。
高速度和低热量使这个技术至关重要,但它是极其复杂和人才是很难找到和火车。
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