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设计和保护芯片外太空


设计考虑硬件用于空间远远超过辐射硬化。这些设备必须执行完美多年,在极端的温度变化,并可能在太空垃圾留下的瘀伤或其他粒子漂浮在虚空的预期寿命。可靠性在空间中添加了一组不同的设计考虑。例如,尽管不太可能anyo……»阅读更多

辐射宽容不仅仅是火箭科学家


随着技术的尺度,从粒子辐射越来越有关软错误攷虑的可靠性。这些辐射效应被称为单一事件令(SEU)和失败由于SEU的频率被称为软错误率(SER)。软错误失败是由于外部来源。相比之下,硬错误指实际过程制造缺陷或电工实习……»阅读更多

的影响大小缩放和设备结构辐射响应的纳米金属氧化物半导体晶体管


新技术论文题为“角度辐射效应在纳米级金属氧化物半导体设备”被范德比尔特大学的研究人员发表,田纳西州纳什维尔。支持的工作部分国防威胁降低局和由美国空军科学研究办公室和空军研究实验室。根据这篇论文,“这谕…»阅读更多

为外太空辐射硬化芯片


有什么区别耐辐射和辐射硬化,和每一个使用在哪里?主任纯矿物Sawant航天和国防在Xilinx垂直市场,谈论不同的条纹在地球的大气层,这些不同层次如何影响辐射,影响对芯片的功能越来越密集电路长期啊……»阅读更多

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