节能测试:在低功耗测试


拉胡尔Singhal和Likith Kumar Manchukonda功耗是有一个很重要的因素在设计今天的半导体芯片和系统。多年来,不断需要更高的性能和更多的功能的芯片一直在推动不断要求更高的晶体管密度。流程节点扩展使之成为可能通过减少晶体管大小……»阅读更多

节能测试:解决权力挑战DFT和测试


集成电路(IC)规模继续增长,因为他们满足计算需求的前沿应用,如人工智能(AI)、自动驾驶和数据中心。随着设计规模的增加,总能耗的芯片也会增加。虽然流程节点比例减少晶体管的大小和它的工作电压,功率比例没有跟上si……»阅读更多

测试成为节能


节能测试计划正在发生变化,变得更广泛的比极简主义计划,仅仅几年前是很常见的。过去将决定如果他们能电力设计,切断电源,然后他们会宣布它完成。“有时候他们会找到力量,力量下来一次,但他们不能第二次因为他们忘了……»阅读更多

不要忘记测试


建模的设计力量,工程师确保包括真实系统模式和实际活动载体,但根据皮特荷迪在抑扬顿挫,有几件事忘记。“如果您正在使用唯一的活动是你的模拟测试向量,这些可能是很不现实的,这是一个很大的误差来源。另一件事我们——这是相当小鬼……»阅读更多

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