中文 英语

标签:平均测试部分

汽车ICs的策略达到严格的标准
通过普拉萨德Bachiraju- 10月26日,2021 -评论:0

你可能不信,但当涉及到芯片在电子制动系统、安全气囊控制单元,和更多的汽车制造商仍然使用10岁的技术,有很好的理由。汽车工业,可靠性、稳定性和鲁棒性的电子组件是至关重要的,特别是在满足严格的汽车电子委员会(…»阅读更多

部分汽车的平均测试ICs不够好
通过安妮Meixner2月24日,2021 -评论:0

平均测试部分(PAT)长期以来一直用于汽车。对于一些半导体技术仍然是可行的,而对另一些人则不再是足够好的。汽车制造商将面临芯片开发的先进流程节点的忧虑。严格控制其供应链和一个依靠成熟的电子过程到目前为止已经使他们增加电子成分……»阅读更多

极端的半导体制造质量,第1部分:汽车
通过本蔡1月- 14,2020 -评论:0

本蔡和凯蒂佩里沙利文在半导体器件的各种类型和设计节点,有动力生产的芯片质量显著提高。汽车、物联网和其他工业应用需要芯片实现高可靠性在很长一段时间,和一些芯片必须保持可靠的性能,同时操作在一个环境……»阅读更多

负责部分平均测试?
通过凯文·罗宾逊- 06年8月,2019 -评论:0

在汽车行业日益增长的需求,越来越多的半导体公司感兴趣的监测和提高质量和可靠性。异常值检测和更特别的部分平均测试(PAT)是汽车行业的行业标准。但是,谁负责质量呢?从历史上看,OSATs负责。在过去,一旦他们……»阅读更多

发现有缺陷的汽车芯片
通过马克LaPedus- 05年3月,2018 -评论:1

下一波为辅助,自动驾驶汽车芯片推动发展的一个关键领域的新方法被称为异常值检测。KLA-Tencor优+,以及导师,西门子的业务,和其他人正在进入异常值检测市场或扩大他们的努力或相关领域。用于各种行业多年,孤立点检测是一个…»阅读更多

  • 赞助商

关于

导航

与我们联系

版权©2013 - 2023 SMG |服务条款|隐私政策
Baidu