推动光学计量;先进的x射线计量;离子计量。
推动光学计量
的伊利诺伊大学香槟分校开发了一种新方法来确定晶体类型使用光学计量技术。
使用一个optical-based称为吸收光谱的技术,研究人员发现微小的纳米晶体约2海里的决议。吸收光谱的吸收辐射的措施。它是测量频率或波长的函数。
通常,该行业使用x射线测量技术来确定材料的晶体类型。这涉及到一个字段称为晶体学,这是确定的科学结晶固体的原子排列。
在结晶学,x光技术一般工作。有时,然而,这些技术生产“模糊阶段签名”当样本太小,根据厄巴纳伊利诺斯州大学的研究人员。如前所述,x射线计量是缓慢的,需要大样本数量,根据研究人员。
希望能找到一个新的方法,伊利诺伊大学的立方和六阶段的光学特征识别在族化合物纳米晶体。确定晶体,研究人员利用吸收光谱,采用基于电子结构理论。
这项技术使纳米晶体的快速识别约2海里。”这种新的能力不需要缓慢而昂贵的x光设备,以及需要大量的材料,必须广泛纯化,”安德鲁·史密斯说的助理教授在伊利诺伊大学香槟分校生物工程,在大学的网站上。“这些理论和实验的见解liquid-dispersed纳米材料提供简单和准确的分析,我们认为还可以提高纳米晶体工程的精度和提高我们理解纳米晶体反应。”
先进的x射线计量
的国家标准与技术研究院(NIST)开发了一个x射线计量仪器,可以让一些世界上最准确的测量。
系统可用于多种材料。最初,乐器,NIST的高精度测量了铜α谱。研究人员测量了地区从8000 - 8100 ev精确的角范围。
NIST的新x光机的高精度测量铜α谱。(来源:詹姆斯·克莱因/ NIST)
x射线计量并不是一项新技术,在许多领域广泛应用。NIST的新仪器和其他x射线系统使用相同的技术。例如,在铜α实验中,NIST的电子系统火灾铜的目标。
然而,NIST拥有先进的技术。新仪器可以测量样品的准确性。相机系统中提供了更多的信息比传统的探测器。这也使测角仪的使用。这是一部分用于测量晶体的面孔之间的角度。
铜的测量只是一个起点。NIST计划测量与其他材料。“x射线的波长是一个统治者,我们可以测量间距的原子晶体,”马库斯说林业局,NIST研究员,该机构的网站。“我们现在知道我们的统治者更好的长度,和各种各样的材料现在可以测量,精度有所改善。”
离子计量
的美国能源部(DOE)的布鲁克海文国家实验室有展示了一种新方法实时观察有离子液体的移动和重新配置不同电压应用于电极。
布鲁克海文使用了一种被称为光电发射电子显微镜成像技术(PEEM)。“成像整个表面,包括电极和它们之间的空间,不仅让我们学习离子liquid-electrode接口的结构的演变也同时探测电极同时而改变系统的各种条件,“布鲁克海文国家实验室科学家杰西说,(杰里科)萨多夫斯基在该机构的网站。
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