如何提高覆盖率减少计数模式。
本文描述了一种新的通用的测试点技术称为VersaPoint,已专门处理设计开发实现混合美国东部时间/ LBIST方法减少美国模式计数,提高逻辑BIST测试覆盖率(LBIST)。VersaPoint测试点可以减少压缩模式计数2 x 4 x之外单独压缩和改善LBIST测试覆盖率超出当前行业标准算法。通过实验数据演示了这些改进工业测试用例。
点击阅读更多在这里。
评论*
的名字*(注意:这个名字会显示公开)
电子邮件*(这将不公开显示)
Δ
传感器技术仍在不断发展,和功能正在被讨论。
问题包括设计、制造、包装、和可观察性都需要解决这种方法成为主流之前对于许多应用程序。
光子学、可持续发展和人工智能芯片吸引投资;157家公司筹集了超过24亿美元。
IP工业正在经历一些转换,将很难使新公司进入市场,并为那些仍然更加昂贵。
中国禁止微米芯片;北美半导体会议形成;应用材料计划40亿美元研发车间;苹果和Broadcom 5 g协议;DRAM收入下降;新的低合金互联10纳米以下。
留下一个回复