使用多个电压增加的风险问题。Sophisiticated可靠性检查是必需的,以及一个统一的规则甲板和集成调试。
电过分强调(EOS)是集成电路故障的主要原因之一在所有半导体制造商,并负责绝大多数的设备故障和产品的回报。使用多个电压增加了EOS的风险,所以IC设计师需要增加他们的尽职调查,以确保thin-oxide数字晶体管没有直接或间接路径的高压部分的设计。与复杂的可靠性检查技术,甲板上一个统一的规则,和集成调试环境,口径PERC可以帮助设计师消除EOS失败的来源不使用手动标记或香料的电路模拟,同时使他们能够实现准确和全面核查必要的,以确保可重复的和可靠的设计。
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