技术论文

膜集成电路研究所:PQC候选人的详细评估电源侧信道攻击

研究人员帮助“硬件开发人员识别脆弱性权力边信道攻击没有额外的HW和SW设置测量边信道泄漏。”

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新的研究论文的一个研究小组从膜集成电路研究所名为“PQC-SEP:权力边信道评估Post-Quantum加密算法的平台。”

文摘
“post-quantum密码学研究(PQC)旨在开发加密算法,可以承受的经典和量子攻击。最近的进步PQC领域逐步从理论转向加密算法在硬件平台上的实现。此外,PQC标准化过程的国家标准与技术研究院(NIST)目前在第三轮。它指定易于保护边信道分析(SCA)作为一个重要的选择标准。这一趋势后,在这篇文章中,我们评估现有使用PQC-SEP PQC实现的边信道泄漏,一个完全自动化的边信道评估平台在和post-silicon水平。它会自动估计的边信道泄漏量的权力配置文件PQC设计在早期设计阶段,即。、RTL门水平,和物理布局水平。也有效地验证边信道泄漏post-silicon层面对人工智能(AI)基于SCA模型和传统的SCA模型。此外,我们描绘挑战为未来的研究方向和方法。”

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来源:膜集成电路研究。

Jungmin公园:Nalla Anandakumar Dipayan萨哈,lancaster university梅赫塔尼两个,法希姆•拉赫曼Farimah Farahmandi,马克·m·Tehranipoor。

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