设计、测试和维修方法FinFET-Based记忆
看看新的记忆测试挑战finFET时代以及如何处理它们。
像任何IP块,记忆需要测试。但与许多其他IP块,记忆测试不通过/失败一样简单。FinFET-based记忆的出现带来了新的记忆测试的挑战。本白皮书覆盖:
- 新设计的复杂性,缺陷覆盖率和收益率FinFET-based记忆提出的挑战。
- 如何综合测试算法的检测和诊断FinFET特定记忆的缺陷。
- 如何将内建自测(阿拉伯学者)基础设施和高效的测试和修复能力可以帮助确保高产FinFET-based记忆。
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