“零缺陷


杰夫Dorsch和埃德·斯珀林测试芯片正变得越来越困难,更耗时,以及更多critical-particularly这些芯片在汽车、工业自动化设备和各种优势。现在的问题是如何提供足够的测试覆盖率,确保芯片正常工作没有放缓生产过程或推高了成本。Balanci……»阅读更多

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