中文 英语

标签:质量

一次测试并不总是足够的
通过安妮Meixner- 2021年10月12日-评论:0

为了提高产量、质量和成本，可以将两个单独的测试参数结合起来，以确定零件是否通过或不合格。通过这种方法收集的结果更加准确，可以让测试和质量工程师更快地发现故障部件，发现更多的测试逃逸，并最终提高成品率，降低制造成本。新的数据分析平台，结合更好地利用s…»阅读更多

在IC制造中追逐测试逃脱
通过安妮Meixner- 2021年5月11日-意见:0

在这些设备离开晶片厂之前，通过测试并最终进入现场的坏芯片数量可以大大减少，但开发必要测试和分析数据的成本严重限制了采用。为集成电路确定一个可接受的测试逃脱指标对于提高芯片制造中的产量与质量比至关重要，但究竟是什么?»阅读更多

云与内部分析
通过安妮Meixner- 2021年3月9日-评论

芯片制造过程中产生的巨大且不断增长的数据量迫使芯片制造商重新考虑在哪里处理和存储这些数据。对于晶圆厂和osat来说，这个决定不能掉以轻心。收益、性能和其他数据的专有性质，以及公司政策对这些数据的严格控制，迄今为止限制了外包到云计算。但是随着数量的增加…»阅读更多

预测和避免汽车芯片故障
通过埃德·斯珀林- 2021年3月2日-评论:0

《半导体工程》与KLA战略合作高级总监Jay Rathert坐下来讨论汽车电子可靠性;Dennis Ciplickas, PDF solutions高级解决方案副总裁;OptimalPlus副总裁兼汽车业务部门总经理Uzi Baruch;proteanTecs汽车部门总经理Gal Carmel;安德烈·范德…»阅读更多

使用分析来减少疲劳
通过安妮Meixner- 2021年1月12日-意见:3

硅供应商正在使用自适应测试流程来降低老化成本，这是阻止高级节点和高级封装成本增加的众多方法之一。没有人喜欢手机在购买后的第一个月内出现故障。但是，当数据仓库服务器或汽车中的关键组件出现故障时，问题就更加紧迫了。可靠性期望……»阅读更多

基础设施影响数据分析
通过安妮Meixner- 2020年12月8日-评论:2

半导体数据分析依赖于来自制造过程的及时、无错误的数据，但交付这些数据所需的IT基础设施投资和工程工作是昂贵的、巨大的，并且仍在增长。随着设备制造商在他们的工具中添加更多的传感器，以及监控器嵌入到芯片中，在数据生成的各个阶段，数据量都在激增……»阅读更多

自适应测试取得进展
通过安妮Meixner- 2020年11月10日-评论:0

不是所有的设备都以同样的方式进行测试，这是一件好事。质量、测试成本和产量促使产品工程师采用属于自适应测试的测试过程，自适应测试使用测试数据来修改后续的测试过程。但是要执行这样的技术，需要后勤支持数据分析，以及支持基于测试的更改…»阅读更多

硬件和软件的选择会影响质量和可靠性吗?
通过布来安梅奥- 2020年11月10日-评论:0

电子系统包括硬件和软件。哪些功能是用硬件实现的，哪些功能是用软件实现的，这些决定是基于各种各样的考虑做出的，包括对质量和可靠性的考虑。硬件可能在本质上提供更高的设备质量，但它也是可靠性问题的来源。这与流行的观点相反。»阅读更多

芯片越来越可靠了吗?
通过埃德·斯珀林- 2020年9月8日-评论:0

半导体行业在了解电路老化和不规则行为的原因和迹象方面取得了巨大进展。但设备真的变得越来越可靠了吗?答案取决于许多因素，没有一个是容易衡量的。可以肯定的是，电路的设计和检查都比过去好得多，单个组件的打印也更准确……»阅读更多

故障前监控IC异常
通过安妮Meixner- 2020年7月7日-评论:0

半导体工艺和设计的复杂性不断上升，正推动越来越多地使用片上监控器来支持IC从诞生到寿命结束的数据分析——无论预计寿命有多长。长期以来，工程师们一直使用片上电路来协助制造测试、硅调试和故障分析。提供内部的可见性和可控性…»阅读更多

←老帖子 更新帖子→

  • 赞助商

关于

导航

与我们联系

版权所有©2013-2023 SMG |服务条款|隐私政策
Baidu