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设计测试数据


随着设计深入数据驱动架构,测试也是如此。主任盖尔·艾德DFT和Tessent硅生命周期的产品管理解决方案在西门子数字行业软件,与半导体工程商谈一个微妙但重大转变为可测试性设计到芯片,这样可以使用测试数据在多个阶段设备的一生。»阅读更多

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