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可逆链诊断


对于先进的技术,业界正在看到非常复杂的硅缺陷类型和缺陷分布。结果之一是扫描链诊断变得更加困难。为了提高扫描链诊断的分辨率,测试诊断可以使用新的扫描链测试模式来利用可逆扫描链架构。本文介绍了一种新型的扫描链结构。»阅读更多

测试芯片在高级节点发挥更大作用


由于设计团队在生产前利用早期硅来诊断问题,在高级工艺节点上的测试芯片变得越来越广泛和复杂。但这种方法也引发了关于这种方法在7nm和5nm是否可行的问题,因为原型化先进技术的成本不断上升,如掩模模具和晶圆成本。半导体设计师长期以来一直在研究…»阅读更多

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