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标签:ECC

数据完整性电平DRAM的记忆
通过Shyam沙玛——7月19日,2022 -评论:0

与DRAM制造推进从1 x 1 y z和进一步1,1 b, c和1节点随着DRAM设备速度上升为DDR5 LPDDR5 8533和8800年,数据完整性也成为一个非常重要的问题,厂商和其他用户必须考虑作为系统的一部分,依赖于所存储数据的正确性后发展出的系统设计工作。我…»阅读更多

后量子密码学
通过Rambus——7月18日,2022 -评论:0

近年来量子计算取得了大的进步,专家认为,量子计算机能够打破2048位RSA或256位ECC将建——这只是一个时间问题。在本白皮书中,我们讨论了安全算法NIST选中后量子密码学(PQC)和Rambus安全产品的实例化。下载这个白皮书学习:…»阅读更多

DRAM芯片采用On-Die纠错和相关可靠性技术
通过技术论文链接- 7月16日,2022 -评论:0

这个新博士论文篇题为“启用有效的错误缓解内存芯片使用On-Die纠错编码”从苏黎世联邦理工学院研究员Minesh帕特尔赢得了IEEE威廉·c·卡特奖2022年6月。抽象的“内存存储密度的改善主要是由过程技术扩展,从而对可靠性造成负面影响的加剧各种circu……»阅读更多

低功耗bls12 - 381配对Cryptoprocessor物联网安全的应用程序
通过技术论文链接- 2月21日,2022 -评论:0

文摘:“我们的第一个bls12 - 381椭圆曲线配对cryptoprocessor物联网(物联网)安全应用。高效的有限域运算和algorithm-architecture一起开使两个数量级节省能源。我们实现几个对策时间和功率边信道攻击。我们的cryptoprocessor可编程提供…»阅读更多

高速处理器为椭圆曲线加密/ NIST '字段
通过技术论文链接- 2月17日,2022 -评论:0

抽象的“椭圆曲线密码(ECC),作为一个公共密钥加密系统,被广泛应用于许多安全应用程序。挑战是实现一个标量乘法(SM)操作ECC最高的计算复杂度。在这项研究中,我们提出一个硬件处理器这对ECC实现高速度和高安全性。我们首先提出了三个……»阅读更多

琴:实际上,有效识别无法改正的错误使用On-Die纠错编码的存储芯片
通过技术论文链接——11月18日,2021 -评论:0

文摘:“先进的技术,以解决scaling-related主内存错误识别和修复一些错误的风险从内部内存控制器。不幸的是,现代主内存芯片内部使用on-die错误校正码(on-die ECC)混淆错误的内存控制器的视图,复杂的过程(即识别高危位。、错误公关……»阅读更多

更多的错误,修正在记忆
通过布来安梅奥- 09年11月,2021 -评论:1

任何类型的记忆一些细胞变小,误比特率增加由于低利润率和过程变化。这可以使用纠错处理占并纠正一些错误,但更复杂的纠错码(ECC),它需要更多的硅区域,进而推高了成本。鉴于这一趋势,成本的迫在眉睫的问题是……»阅读更多

针对集成电路冗余
通过布莱恩•贝利- 14,2021 -评论:0

技术开发一个目的通常是适用于其他领域,但是组织性的可以利用的,直到有一个明确的成本优势。考虑内存。所有记忆都用业余制作的行和列中交换设备失败时生产测试。“这是一个常见的方法来增加产量的设备,根据memor……»阅读更多

设计师需要了解什么纠错码(ECC)在DDR记忆
通过Vadhiraj Sankaranarayanan领导12月- 10,2020 -评论:2

对于任何电子系统,内存子系统中的错误可能是由于设计故障/缺陷或电噪音的任何一个组件。这些错误分为hard-errors(设计造成的故障)或软件出错(由系统噪声或数组内存位翻转由于阿尔法粒子,等等)。在运行时处理这些内存错误,内存subsyst……»阅读更多

当你不能吝啬对系统可靠性
通过克里斯汀年轻- 06年8月,2020 -评论:0

发生故障时,不管我们喜欢还是不喜欢。重要的是为失败做好准备,包括实施措施,让我们迅速解决或解决问题。但并不是所有的失败都是同样。例如,你每天使用的笔记本电脑可能偶尔故障经验。如果是精心设计的,你可以重置机器才把它弄回来……»阅读更多

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