最佳实践在实现高缺陷覆盖率基于多个故障模型。
本白皮书描述用户定义的功能故障模型(UDFM),包括门详尽UDFM和cell-aware UDFM,并在设备的有效性降低金刚石。
达到今天的质量和defect-per-million (DPM)的目标,高质量的测试必须实现很高的缺陷覆盖率。今天测试通常包括生成测试模式基于多个故障模型,模拟制造缺陷。常用的故障模型包括停留在,衔接和过渡。
与每一步流程节点的大小,有新的缺陷引入生产流程。这些缺陷可能发现通过现有的故障模型和测试模式生成方法,但为了最大化覆盖的情况下,需要创建一个新的故障模型。
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