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基于不断发展技术的可测试性分析


片上系统(SoC)设计的复杂性持续增长,因此制造所需的相应测试设计(DFT)逻辑也变得更加先进。设计团队面临着大量门数的挑战,以及大量内部开发和第三方IP集成到他们的设计中。了解是否可以为这些复杂的设计创建高质量的制造测试需要…»阅读更多

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