辐射宽容不仅仅是火箭科学家


随着技术的尺度,从粒子辐射越来越有关软错误攷虑的可靠性。这些辐射效应被称为单一事件令(SEU)和失败由于SEU的频率被称为软错误率(SER)。软错误失败是由于外部来源。相比之下,硬错误指实际过程制造缺陷或电工实习……»阅读更多

危险的电力


现代的电力供应是空气一样不可或缺,但是过多的可以为汽车和航空航天applications-especially坏事时的静电放电(ESD)。28 nm芯片之前,20 nm和16 nm,静电放电的设计窗口正在萎缩的原因,解释了诺曼Chang是副总裁和高级产品的对策……»阅读更多

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