测量反射面


制造商采用自动光学检测(AOI)系统基于相移术(PSP)应用程序的高级包装流程。许多这些过程使用前就像技术创建在一个包和死亡之间的联系打包死到外面的世界。技术提供了快速、精确测量的10µm 100µm功能……»阅读更多

对速度的需要


我们之前确认之间的融合发生表面安装技术(SMT),用于连接封装半导体器件在印刷电路板上,和先进的包装(美联社)技术,半导体器件之间的连接和外部世界的整合包装过程中使用front-end-like片到基于仪表盘制造业proc……»阅读更多

延长3 d夫人传感器技术来解决具有挑战性的测量和检查应用程序


越来越需要高度精确的3 d检查和测量在SMT的功能应用,半导体和计量市场。3 d多次反射抑制(夫人)传感器技术已经有效地结合自动光学检查了好几年,现在被用于许多SPI应用程序如微电子和子- 100微米出售……»阅读更多

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