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双极放大效应的定量模型:确定半导体/氧化物界面态密度的新方法


“我们报告了一个双极放大效应(BAE)模型,该模型能够在金属氧化物半导体场效应晶体管中使用BAE测量缺陷密度。BAE是一种电检测磁共振(EDMR)技术,最近被用于缺陷识别,因为改进的EDMR灵敏度和对界面缺陷的选择性....»阅读更多

利用数字图像相关性确定BGA翘曲


数字图像相关(DIC)是一种非接触、全场位移、光学测量技术。它常用于以下应用:材料表征热膨胀系数(CTE)玻璃转变温度杨氏模量泊松比疲劳和失效试样测试位移和应力的现场监测»阅读更多

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