标签:DEF

结合不同类型的工厂数据大回报
通过安妮Meixner- 07年12月,2021 -评论:1

收集来自不同生产流程,结合不同的数据类型可以发挥重要作用在改善半导体产量、质量和可靠性,但成功需要集成深度域专家从各种不同的流程步骤和筛选大量的数据分散在全球供应链。半导体制造业IC数据……»阅读更多

优化工具集成设计的成功至关重要
通过詹姆斯巴黎12月- 22,2020 -评论:0

由詹姆斯•巴黎和Asatryan地方之间的关系和路线(不)应用程序和芯片系统(SoC)设计实现的集合,分析和验证的方法和工具一直是一条双行道。不具有系统的基础,如果你愿意,设计的实现需要虚拟和物理。然而,它是使用…»阅读更多

早期检测的权力/地面短裤Tapeout速度时间
通过导师,西门子业务——5月27日,2020 -评论:0

早期检测的权力/地面短裤让设计团队在实现修复错误,避免耗时的数据合并和全芯片物理设计验证。Calibre平台提供了快速、自动电源/地面检查使用抽象LEF / DEF输入,大大减少所需的时间和资源,以确保这些违反tapeout之前删除。阅读更多…»阅读更多

加强IO环检查一致,可定制的验证
通过导师,西门子业务- 11月25日,2019 -评论:0

Calibre PERC IO环检查程序框架消除了手动检查通过提供一个健壮的DRC-like环境来验证所有IO放置规则与签字的质量。运行在第一LEF / DEF平面布置图,IO环检查提供了早期和IO环位置的完整的范围规则,使变化对布局的影响微乎其微。快速、准确的调试和修正确保所以…»阅读更多

更多的数据,不同的方法
通过埃德·斯珀林- 25,2015 -评论:0

缩放、不断增加的复杂性和集成都是导致数据爆炸,从最初的设计到物理布局验证和进入生产阶段。现在的问题是如何处理这些数据。SoC设计,数据识别现实和潜在的问题是至关重要的。它还允许验证工程师的后端设计流程……»阅读更多

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