标签:深度数据遥测

多层深数据性能监视和优化
通过proteanTecs8月- 10,2021 -评论:0

结合功能和参数监测复杂soc的现实世界的行为提供了一个强大的新方法,在开发过程中促进性能优化领域,提高了安全性和安全,使预测维修预防领域的失败。proteanTecs“通用芯片遥测(节点)和西门子Tessent嵌入式分析complementa…»阅读更多

攷虑任务可靠性监控基于深度数据
通过proteanTecs8月11日,2020 -评论:0

介绍了深度数据可靠性监测方法在先进的电子技术,基于退化作为失败的前兆。通过应用机器学习算法和分析数据由片上监测IPs(代理),IC /系统健康和性能可以不断监测,在产品生命周期的所有阶段。实时退化分析关键标准……»阅读更多

没有两个芯片是一样的
通过亚历克斯Burlak- 7月27日,2020 -评论:0

随着半导体工艺继续收缩变得越来越具有挑战性的管理单个设备的参数不仅在晶圆的直径,但也在一个芯片上的长度,特别是对于一个复杂的芯片面积大。这个问题今天的标准方法是假设最坏的情况下,创建一个次优设计适应t…»阅读更多

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