中文 英语

系统级测试:它适合在哪里?


我们的第二个C-Brief讨论了系统级测试(SLT)最适合半导体测试工作流程的位置。使用自动化测试设备(ATE),传统的工作流程可能包括:晶圆分类(WS)封装后老化(BI)结构测试(ST)和功能测试(FT)的结合。随着对大批量制造业的需求转向更广泛的工业和com…»阅读更多

Baidu