标签:DUT

测试连接与实时清理维护
通过安妮Meixner- 08年11月,2022 -评论:0

测试设施开始实现实时维护,而不是定期维护,减少生产成本和提高产品产量。自适应探测针的清洁和测试插座可以延长设备寿命、降低收益率远足。这同样适用于负载板修复,这是朝着预见性维护。但这种变化更复杂……»阅读更多

必要的信号发生器指南在RF -第1部分建立一个坚实的基础
通过Keysight——6月22日,2022 -评论:0

消除不确定性和怀疑从您的测试结果可靠的信号源。工程师设计消费者无线、军事通信或雷达设备面临着持续的在频谱带宽危机充满了干扰。一个精确的信号发生器提供精确和稳定的测试信号描述你的测试设备(DUT)。它还允许您应用障碍t…»阅读更多

处理并行测试站点变异
通过安妮Meixner- 09年11月,2021 -评论:1

并行测试多个设备使用相同的吃了会导致减少测试时间和降低成本,但它需要工程技巧让它如此。最小化测试测量变异为每个测试设备(DUT)是一个multi-physics问题,这是一个越来越重要的解决在每个新流程节点和multi-chip包。它需要同步的……»阅读更多

晶圆测试管理
通过安妮Meixner——5月19日,2021 -评论:1

每一个晶圆测试接地要求之间的平衡良好的电接触,防止损坏晶片和探针卡。做错了,它可以毁掉一个晶片和定制的探针卡,导致较差的收益,以及失败。实现这种平衡需要良好的晶片探索过程过程以及产生的工艺参数监控,这……»阅读更多

STS软件包是什么?
通过国家仪器- 08年10月,2018 -评论:0

STS软件包提供了所有你需要的软件工具和硬件驱动程序有效地开发和部署测试程序,交互式调试和维护和校准倪半导体测试系统(STS)。倪将发布新包定期将新功能和硬件驱动程序。STS软件包包括交互式测量工具和debugg……»阅读更多

大规模并行系统级测试
通过天体电子学- 05年6月,2017 -评论:0

几十年的半导体行业的进步继续推动一个较小无法满足消费者的需求,更强大,更无处不在的设备——无论是在我们的汽车,我们的台面或在我们的手腕。满足这一需求现在和未来,制造日益复杂的应用程序必须规模的半导体系统一个不可思议的频谱。Additio……»阅读更多

测试智能设备的大爆炸
通过国家仪器- 10月19日,2016 -评论:0

由于扩散物联网的智能设备(物联网),这是一个情况不像绝大的怀疑和困惑时,古希腊天文学家托勒密一定觉得凝视着满天空的星星在晴朗的冬天的晚上,试图合理化广阔的画面在他面前。但是,正如我们不会批判早期的天文学家和斐洛……»阅读更多

U.V.M.法术减免
通过亨利•陈12月- 22,2015 -评论:0

验证可以是一个很难解决的问题。设计在规模和复杂性,工程师很难证实他们的设计表现正常。这就是UVM可能会提供一些缓解。UVM旨在提供一个更简单、更灵活的办法创建健壮的测试环境,这样您就可以毫不费力地验证这些困难的设计。UVM是什么?UVM验证冰毒……»阅读更多

UVM:阻止你吗?
通过道格•阿摩司- 02年7月,2015 -评论:0

这些天,验证执行的最复杂的设计是使用一个标准的验证方法,可能SystemVerilog-based [gettech id = " 31055 "评论= " UVM "]。许多验证团队对UVM加大,但其他人还没有采取行动。这是为什么呢?,多大的“跳水”呢?如果UVM是那么伟大,那么为什么没有每个人都采用了…»阅读更多

处理数据过剩
通过安Mutschler- 11年4月,2013 -评论:0

由安Steffora Mutschler工具如模拟和仿真是绝对必要的设计和验证当今复杂的soc,但是当你想做什么权力分析和文件大小太大,仿真器来处理吗?即使有一个五分钟的手机模拟器可能需要三个月。可以理解的是,这个问题是导致疼痛许多设计团队…»阅读更多

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