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测试2.5D和3d - ic


分离的soc使芯片制造商能够在一个芯片中塞入比十字线大小的芯片更多的特性和功能。但正如西门子EDA的技术营销工程师Vidya Neerkundar所解释的那样,在一个封装中访问所有的模具或芯片存在挑战。新的IEEE 1838标准解决了这个问题,以及当2.5D和3d - ic在…»阅读更多

IC架构的转变,oem缩小了他们的关注点


流程扩展带来的收益递减,再加上无处不在的连接和数据的指数级增长,正在推动芯片设计方式、预期功能以及预期速度的广泛变化。在过去,性能、功率和成本之间的权衡主要由大型原始设备制造商在整个行业的扩展路线图范围内定义。Ch……»阅读更多

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