标签:三维测量

CDSAXS里程碑和未来增长X-ray-Based计量的三维纳米结构重要的芯片行业
通过技术论文链接4月- 20,2023 -评论:0

新技术论文题为“审查的关键发展的里程碑重要尺寸小角x射线散射在国家标准与技术研究所的。”Abstract: "An x-ray scattering based metrology was conceived over 20 years ago as part of a collaboration between National Institute of Standards and Technology (NIST) and International Business Machines Corporat...»阅读更多

现在首要任务在高级节点系统的产量问题
通过劳拉·彼得斯2022年12月- 06 -评论:0

系统产生问题取代随机缺陷作为主要关注在最先进的半导体制造过程节点,需要更多的时间,精力,和成本达到足够的收益。收益率是终极嘘嘘在半导体制造话题,但它也是最重要的,因为它决定了有多少芯片可以出售获利。“老节点b…»阅读更多

MicroLEDs从实验室到工厂
通过劳拉·彼得斯——7月22日,2021 -评论:1

每一个颠覆性技术都有其“啊哈”——的时候每个人都从工程师到投资者意识到,是的,这技术是真正的交易,它不会被取消在研发楼。对许多人来说,这是三星最近宣布的110英寸电视microLED不可逆转地在地图上把microLEDs。电视的价格是155000美元,但与大多数消费电子产品th……»阅读更多

在检验和计量山挑战
通过马克LaPedus2013年12月- 12 -评论:0

芯片制造商正在全速前进向较小的流程节点,从而推高了芯片制造的成本和复杂性。迁移也把巨大的压力几乎所有的工厂流程,包括一个关键但无名业务流程控制的一部分。过程控制包括20个左右不同的段在检验和计量领域。属……»阅读更多

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