功率和信号电迁移先进电路。
可靠性验证是设计和开发的一个重要方面一个集成电路(IC)来帮助保证其持续多年的生产使用的功能。可靠性验证的一个关键领域是electro-migration检查分析,确保电线和通过用于连接各种设备的芯片不失败从多年的连续使用。
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越来越多的汽车生态系统中的标准和规范承诺节省开发成本,抵御网络攻击。
第一个系统,与生产计划于2025年;hyper-NA跟随下一个十年。
Gate-all-around将取代finFET,但它会产生一系列的挑战和未知。
学术界、业界伙伴关系斜坡来诱使大学生硬件工程。
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高速度和低热量使这个技术至关重要,但它是极其复杂和人才是很难找到和火车。
光子学、可持续发展和人工智能芯片吸引投资;157家公司筹集了超过24亿美元。
做已经完成在过去只能带你走那么远,但RISC-V导致的某些方面验证从根本上重新思考。
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