测试点为混合生成/ LBIST应用程序更容易达到90% ISO 26262标准的停留在覆盖在系统测试。
汽车集成电路设计的显著增长促使关注ISO26262功能安全合规,包括高质量的生产测试和最低停留在测试覆盖率为90%在系统测试。设计师还必须控制IC测试数据量,测试应用时间和测试成本。一个新的测试点技术,提高了系统的测试覆盖率,减少模式计算DFT有望成为新的标准(试验设计)方法对关键任务ICs。
也许最受欢迎的新汽车ICs DFT策略是混合生成/逻辑内建自测(LBIST)。一度独立的生成和LBIST技术合并,压缩IP被重用应用BIST测试。结果是更小的测试集,较高的故障覆盖率,集成所需的自测ISO 26262。最新的飞跃测试效率是一种新型的测试点,与混合生成/ LBIST效率比测试点生成或LBIST分开。
嵌入生成压缩一直是多年来制造测试的标准方法。LBIST董事会,引入系统,攷虑测试任务关键型汽车ICs的关键要求。LBIST半随机模式适用于电路代替确定性刺激,收集电路响应的多输入签名登记(MISR)需要电路“X-free”,这意味着没有观察到的未知值。你达到X-free设计通过控制传播的随机在电路或未知的数据来源。LBIST擅长在系统测试方法的选择,因为模式的生成和收集的签名完全位于芯片上。然而,它可能需要大量的模式,和一个相对较长的时间,实现所需覆盖的目标。MISR-based签名可能比较片上(如在一个汽车实现),或者它可能是扫描片外和比较外部。
除了停留在和过渡延迟测试,生成时间提供高缺陷检测针对专门的故障模型包括timing-aware cell-aware,路径延迟和桥接故障。生成时间可以交付所需的高质量的生产测试任务关键型集成电路,但它也提出的挑战的大型测试模式集,提高测试成本和时间,使生成一个理想的解决方案在系统测试。
这两种测试方法的组合在一个杂化的版本允许测试汽车集成电路设计在不同的场景:晶片,包装,在系统。然而,使用这两种方法都可以占用芯片面积,因为LBIST LFSR(线性反馈移位寄存器)和生成的压缩减压器使用不同的逻辑,尽管他们的功能是相似的。现在有解决方案,结合逻辑从嵌入式压缩生成和LBIST启用这个混合生成/ LBIST方法没有处罚。这种混合生成/ LBIST策略已成为广泛使用的汽车ICs的设计师。图1说明了混合的组合逻辑架构TK / LBIST。
图1所示。导师的逻辑架构Tessent TestKompress TK / LBIST混合生成/ LBIST解决方案,与测试点。
测试点是专门设计结构用于提高测试结果。传统LBIST测试点通过打破区域内的电路来改善结果抗随机模式,如大量的逻辑集中在编码或解码。也有相对较新的测试点专门为芯片上的压缩/生成时间,自动插入盖茨这样的并行逻辑锥共享相同的生成模式。生成测试点通常由2 -减少生成模式计数超出与芯片上的实现压缩。
既不容易也不BIST测试点分别适合使用在混合生成/阿拉伯学者环境。这意味着越来越多的设计师实现混合生成/ LBIST方法必须运行测试点插入两次实现最好的结果生成和BIST测试。
新的混合测试点技术结合,提高在以前的测试点算法来改进生成压缩以及随机模式进一步报道。这些新的测试点插入在一个通过,流线设计流程。
新的混合测试点技术结合了多个测试点的co-targeting目标(模式计数减少和阿拉伯学者报道)和更先进的测试点分析和插入算法。汽车集成电路设计的好处是更好的在系统测试覆盖率符合ISO 26262标准。如果LBIST停留在报道已经90%,混合测试点可以维持10 x少LBIST模式。
故障仿真运行16 k LBIST向量比较基线LBIST测试覆盖率与LBIST测试点和混合测试点。相对于基线(没有测试点),平均覆盖率与LBIST改进测试点为5.6%。混合测试点的覆盖率提高9.5%。表1显示了结果。
表1:停留在故障后测试覆盖率达到16 k模式。
几家大型半导体公司评估混合测试点代替单独LBIST和生成测试点插入混合生成/ LBIST测试策略。发现运行时的所有新插入算法比以前的算法快得多,平均20 x提供储蓄。改善LBIST覆盖汽车客户定位在系统测试手段达到90%的测试覆盖率目标更快。
更多信息:提高系统测试Tessent VersaPoint测试点技术
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
留下一个回复