标签:单独的事件令

辐射宽容不仅仅是火箭科学家
通过Synopsys对此11月23日,2022 -评论:0

随着技术的尺度,从粒子辐射越来越有关软错误攷虑的可靠性。这些辐射效应被称为单一事件令(SEU)和失败由于SEU的频率被称为软错误率(SER)。软错误失败是由于外部来源。相比之下,硬错误指实际过程制造缺陷或电工实习……»阅读更多

医学、工业和航空航天IC设计更改
通过安Mutschler3月- 30,2020 -评论:0

医学、工业和航空航天芯片正变得更复杂更智能添加到这些设备,迫使设计团队开始利用工具和方法,通常只在前沿节点用于商业应用。但与汽车一样,这些系统的需求在迅速地改变着。除了严格的质量、安全和秒……»阅读更多

芯片在太空
通过埃德·斯珀林- 01年11月2018 -评论:0

的CEO杰夫•泰特Flex Logix,谈到为什么嵌入式fpga的加速器正在利用卫星和飞机,为什么编程处理变化的关键技术,可以跨越几十年,从最初的设计。https://youtu.be/ynZYKXcLCzE»阅读更多

为什么汽车设计花了这么长时间
通过安Mutschler3月- 02年,2017 -评论:0

设计芯片的汽车市场增加大量开销,尤其是对芯片与严格的安全要求。在验证方面它可能导致额外的6到12个月的工作。在设计方面,发展中相同的处理器在手机市场将少6人月。当涉及到复杂的电子控制单元(ecu)或[getkc id = " 81…»阅读更多

故障模拟重生
通过布莱恩•贝利2月23日,2017 -评论:0

故障模拟,最古老的EDA行业工具箱中的工具之一,是收到严重的整容后它从存在几乎消失了。在早期,故障模拟被用来年级制造业的质量测试向量。这个任务几乎完全取代了[getkc id = " 173 "评论=“扫描测试”)和自动测试模式生成(生成)。今天,功能安全是标出……»阅读更多

你的IP有多可靠?
通过埃德·斯珀林9月- 12,2014 -评论:0

几乎每个人都买了一个新的智能手机,汽车,家电设备或设备经历了技术故障,需要更换或修理,或者他们知道有人经历过这些问题。好消息是,只有很小一部分的电子故障或失败可以导致硬件设计。大部分是由于制造业变化……»阅读更多

软错误产生艰难的问题
通过埃德·斯珀林- 4月28日,2009 -评论:0

埃德·斯珀林单一事件不适用于一样罕见的一些元素周期表上的元素,与他们可能导致降级的破坏比现实的理论。不了。在90海里,是什么理论变成了现实。在45纳米,事件正变得更为常见,常常影响多个比特越来越密集的数组的内存,现在,越来越多的逻辑。已知的改变……»阅读更多

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