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标签:扫描电子显微镜

Nanosheet场效应晶体管驱动计量和检验的变化
通过凯伦·海曼- 09年8月,2022 -评论:0

在摩尔定律的世界里,它已成为一个不争的事实,较小的节点会导致更大的问题。随着晶圆厂转向nanosheet晶体管,它正变得越来越有挑战性检测直线边缘粗糙度和其他缺陷由于这些和其他多层结构的深度和混浊。因此,计量更大的混合方法,与一些著名的工具移动……»阅读更多

电子束IC缺陷检测生长的作用
通过凯伦·海曼7月- 12,2022 -评论:1

永久的迈向更小的特性,再加上对芯片寿命更长更好的可靠性不断增长的需求,已从一个相对模糊的高架检查但必要的技术到工厂和包装最重要的工具之一。多年来,检查被陷害了电子束之间的战斗和光学显微镜。不过,越来越多的其他类型的高级警官……»阅读更多

2.5 d的安全
通过埃德·斯珀林2015年10月- 12 -评论:2

2.5 d和扇出的期待已久的举措是提高一些熟悉的关于安全的问题。将多个芯片结合在一个先进的包一样安全的soc一切都集成在同一模具在哪里?答案不是一个简单的是或否。投入的角度来看,所有的芯片都容易[getkc id = " 253 " kc_name =“侧信道攻击”),黑客的记忆风险增加…»阅读更多

为什么每个芯片都可以使用此工具砍呢
通过欧内斯特·沃斯曼- 04年8月,2014 -评论:0

解释为达斯·维达的经典《星球大战》传奇,善与恶的界限可以很薄。有时候发达的技术中获益,在错误的人手中,可以是毁灭性的。时,这看起来似乎有点夸张的讨论聚焦离子束(FIB)应用于半导体,但类比是很真实的。聚焦离子束侦探……»阅读更多

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