中文 英语

软错误产生棘手的问题


在过去,单个事件的扰乱就像元素周期表上的某些元素一样罕见,它们可能造成的损害更多地被归为理论而非现实。不再......在90nm,理论变成了现实。在45nm,这些事件变得越来越普遍,经常影响越来越密集的存储器阵列中的多个比特,现在越来越多地影响到逻辑。已知的改变……»了解更多

Baidu