比较和识别两个模拟之间的区别


比较是一项基本的技能我们都用在我们的日常生活中来理解现实和分析情况。当涉及到芯片验证,检查还包括比较的根本任务,因为检查总是“校验和”——ASIC规范和/或一个模型。在实践中,当我们遇到失败的测试,通常我们有一个类似的通过测试工程师……»阅读更多

加快Scan-Based体积诊断


关键过程被称为新产品跟进,这是一个种族尽快让新产品产量。但日益复杂的相互作用方面的设计和过程很难找到产生问题的根源,这样他们就可以很快得到解决。先进的流程有很高的defectivity和学习必须迅速和有效的。尽管进步是…»阅读更多

重新定义设备故障


5或3 nm芯片真的可以执行规范在几十年里?答案是肯定的,但不是使用传统方法进行设计、制造和测试这些芯片。在接下来的几个流程节点,所有的解决方案和解决方案开发自45纳米不一定适用。finFET早期过程,例如,新的晶体管结构提供了一个巨大的im……»阅读更多

策略来防止批量生产集成电路故障


当集成电路设备生产和运送到最终客户,重要的是,他们将函数作为指定的应用程序环境。本文概述了战略和实践用于统计样本,随着时间的推移和预测设备将如何运作。列出的做法被认为是最好的技术对于一个成功的产品。这些策略最有可能……»阅读更多

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