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芯片设计测试数据


收集数据来确定芯片的整个生命周期的健康正成为必要的芯片被用于更多的关键应用,但能够访问该数据并不总是那么简单。它需要移动通过一个复杂的信号,有时不可预知,常常充满敌意的环境,在最好的条件下是一个艰巨的挑战。越来越多的感觉……»阅读更多

HW / SW设计的智能优势


添加智能边缘比它可能首先出现困难得多,因为它需要了解什么处理,基于假设边缘实际上会是什么样子。究竟属于智能优势的标题不同从一个人传给另一个,但所有人都同意昨天远远超出简单的传感器物联网开发……»阅读更多

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