集成电路包装缺陷挑战成长


几个供应商增加新的基于红外检测设备,光学和x射线技术以降低当前和未来IC缺陷包。而所有这些技术是必要的,他们是互补的。没有一个工具可以满足所有缺陷检验要求。因此,包装供应商可能需要购买更多的和不同的工具。多年来,p…»阅读更多

需求增长减少PCB缺陷


董事会的投资检验、测试和分析,以满足越来越严格的要求,在安全至上的行业如汽车可靠性。它标志着一个重大转变,从过去,担心可靠性主要针对设备连接到印刷电路板。但随着soc变得分解到先进的包…»阅读更多

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