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标签:自适应测试

利用半导体测试中数据的力量
通过肯·巴特勒- 2022年5月10日-评论:0

每天都在开发新的方法来收集、清理、整合和分析数据源，并从中提取有用的、可操作的情报，以帮助决策和其他流程。这适用于各种行业，包括半导体设计、制造和测试。摩尔定律(图1)可能会随着晶体管临界尺寸的传统缩放而减慢。»了解更多

使用分析来减少倦怠
通过安妮Meixner- 2021年1月12日-评论:3

芯片供应商正在使用自适应测试流程来降低损耗成本，这是众多旨在遏制先进节点和先进封装成本增长的方法之一。没有人喜欢手机在买了一个月后就坏了。但是，当数据仓库服务器或汽车中的关键组件出现故障时，问题就更加紧迫了。可靠性期望……»了解更多

增加测试以提高利润
通过安妮Meixner- 2020年12月30日-评论:0

并不是所有的芯片都符合规格，但随着越来越多的数据可用和这些设备的成本持续上升，有越来越多的动力来回收和重新利用芯片用于其他应用和市场。基于性能的分组与彩色带状电阻器一样古老，但这种做法正在普及——即使是最先进的节点和封装。在过去的三十年里，引擎…»了解更多

自适应测试取得进展
通过安妮Meixner- 2020年11月10日-评论:0

并非所有设备都以同样的方式进行测试，这是一件好事。质量、测试成本和产量促使产品工程师采用自适应测试的测试过程，这种测试过程使用测试数据来修改后续的测试过程。但是要执行这样的技术需要支持数据分析的逻辑，以及支持对基于…的测试的更改。»了解更多

新的数据格式促进测试分析
通过安妮Meixner- 2020年9月8日-评论:0

对更多更好的测试数据的需求推动了主要的标准工作，为多年来数据格式最重大的变化之一铺平了道路。这种转变是有充分理由的。来自设备测试的数据正在成为有关限制和流量的测试程序决策的关键因素。从汽车和医疗部件到复杂的异构…»了解更多

五大颠覆性测试技术
通过马克LaPedus- 2014年6月19日-评论:0

多年来，测试一直是集成电路制造流程的关键部分。芯片制造商、sat和测试机构在市场上购买最新的测试仪和测试设计(DFT)软件工具是有充分理由的。在今天的市场上，过多的不必要的油田回报是不可接受的。下一波复杂芯片可能需要更多的测试覆盖范围和测试时间。这可能会导致更高的…»了解更多

多少测试才足够?
通过马克LaPedus- 2014年5月15日-评论

随着芯片制造商向更精细的几何形状发展，IC设计显然变得更加复杂和昂贵。考虑到所涉及的巨大风险，芯片制造商必须在零部件出厂前确保其质量。作为质量保证过程的一部分，这需要一个可靠的测试策略。但多年来，集成电路制造商一直面临着同样的困境。一方面，他们想对我进行严格的测试……»了解更多

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