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寻址过程变化和减少时间在16 nm和下面的悲观情绪

在低功耗设计过程变化变得更加明显,需要不同的方法库特征和变化建模。

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在16 nm和下面,芯片上变异(缴纳)成为一个至关重要的问题。增加过程变化使对时机更大影响,变得更加明显的低功耗设计与超低电压操作条件。在本文中,我们将讨论如何涉及图书馆更精确的特征和变化建模新方法可以减少时间的库文件的利润占这些过程变化的影响。本文将展示如何更好的图书馆特征可能导致减少时间悲观加速时间签收。

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