更准确和详细的分析半导体缺陷使用SEMI-PointRend SEM图像

通过技术论文链接2023年3月- 10 -评论:0

技术论文题为“SEMI-PointRend:提高半导体晶圆缺陷分类和分割为渲染”发表(预印本)的研究人员在imec,韩国蔚山大学和KU鲁汶。文摘:“在这项研究中,我们应用了PointRend(积分渲染)半导体缺陷分割方法。PointRend迭代分割算法受ima……»阅读更多

主动学习,以减少数据在半导体制造缺陷识别的要求

通过技术论文链接- 10月24日,2022 -评论:0

新技术论文题为“探索半导体缺陷分割的主动学习”研究机构发表的科学技术和研究(A * STAR)在新加坡。“我们识别两个独特的挑战当应用艾尔在半导体XRM扫描:大域和严重class-imbalance转变。为应对这些挑战,我们建议进行对比pretrainin……»阅读更多

通过技术论文链接- 13,2022 -评论:0

新的研究论文题为“半导体缺陷的检测混合Classical-Quantum深学习”,国立清华大学的研究人员。文摘”人工智能和自动驾驶技术的快速发展,对半导体的需求预计将大幅上升。然而,半导体制造业的大规模扩张和发展……»阅读更多