卷积Compaction-Based MRAM故障诊断


文摘:“自旋转矩磁阻的随机存取记忆(STT-MRAMs)正逐渐取代传统的sram在soc设计中最后一级缓存。他们的制造过程包括削减参考电阻STT-MRAM模块可靠地确定逻辑0和1的值读取操作。通常,一个芯片上的削减常规由乘…»阅读更多

机器学习应用到芯片


的竞赛已经开始,以求找出如何应用分析,数据挖掘和机器学习的一大片的细分市场和应用程序,和其他地方都更为明显比在半导体设计和制造。ML / DL /人工智能的关键是了解设备的反应真实的事件和刺激,以及未来的设备可以优化。需要筛选一个expandi…»阅读更多

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