制造业:8月31日


x射线nanotomography美国能源部(DOE)的阿贡国家实验室开发了一种新方法对提高x射线nanotomography解决困难。一般来说,断层扫描是一个系统,将图像或横截面的一个示例使用x射线或超声波。图片然后重新创建一个3 d的形式模型。一个常见的形式被称为micro-comput……»阅读更多

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