应力张量中构造的确定性计算薄基片


从麻省理工学院和亚利桑那大学的新研究报告,由美国宇航局资助的。抽象”访问的巨大价值自由表面等mass-sensitive应用空间光学或metaform光学组件需要制造过程适合计算薄基片。我们提出应力张量中构造的精确校正图错误,即使microstruc……»阅读更多

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