标签:IEEE 1149.10

优化扫描测试复杂的集成电路
通过格雷戈里·哈雷2023年5月- 09年-评论:0

随着芯片变得更异构集成功能,测试它们提出了越来越多的挑战,特别是对高速芯片系统(SoC)设计测试针有限的可用性。此外,复杂的3 d和chiplets等新兴包装需要全面的新的解决方案,可以提供更快的结果在多个阶段硅lifec……»阅读更多

芯片设计测试数据
通过埃德·斯珀林8月- 10,2021 -评论:0

收集数据来确定芯片的整个生命周期的健康正成为必要的芯片被用于更多的关键应用,但能够访问该数据并不总是那么简单。它需要移动通过一个复杂的信号,有时不可预知,常常充满敌意的环境,在最好的条件下是一个艰巨的挑战。越来越多的感觉……»阅读更多

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