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处理并行测试站点变异


并行测试多个设备使用相同的吃了会导致减少测试时间和降低成本,但它需要工程技巧让它如此。最小化测试测量变异为每个测试设备(DUT)是一个multi-physics问题,这是一个越来越重要的解决在每个新流程节点和multi-chip包。它需要同步的……»阅读更多

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