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可靠性问题转向芯片设计


对低不良率和高成品率的需求正在增加,部分原因是芯片现在被用于安全和关键任务应用,部分原因是这是一种抵消不断上升的设计和制造成本的方式。所改变的是在初始设计中重新强调解决这些问题。在过去,缺陷和良率被认为是晶圆厂面临的问题。Re……»阅读更多

缺少中介抽象和标准


目前,基于插入器的SoC的设计和分析并不适合胆小的人,但业界已经意识到这些挑战,并正在尝试解决它们。然而,在那之前,这将是一种只有大公司才能使用的技术,因为他们需要把所有东西都当作一个骰子来对待。大型系统的构建使用技术,如ab…»阅读更多

射频设计中的挑战


为射频应用设计高度集成的组件对系统工程师、设计人员和调试工程师提出了特殊的挑战。在现代元件上,芯片、封装和电路板之间的界限正在逐渐消失。将部分功能转移到包甚至板上的做法越来越普遍。在某些情况下,要求是……»阅读更多

低功耗始终在线电路


有些电路一直开着。智能手机在感知到用户时就会自动唤醒,智能音箱则会对关键字做出回应。挑战在于确保这些设备在设备其他部分断电时不会消耗大量电力,保持安全,并且可以快速唤醒所需的其他功能。所有这些都需要大量的工程工作。阿莫勒…»阅读更多

老化模拟在集成电路设计中的重要性


多年来,电子产品的可靠性一直是汽车行业和工业自动化领域的重要质量标准。该领域的电子产品必须在部分恶劣的环境条件下实现10年以上的产品寿命。但是电子产品的可靠性在其他领域也变得越来越重要。例如,终端客户现在的消费品保存时间更长……»阅读更多

传感器融合无处不在


你如何区分背景噪音和闯入者打碎玻璃的声音?英飞凌直观传感解决方案的营销和业务开发主管David Jones关注了正在开发的传感器类型,不同传感器组合时会发生什么,这些传感器目前用于什么,以及它们未来将用于什么。»阅读更多

芯片传感和PVT监控:不仅仅是一种保险策略


你不会在没有保险的情况下开昂贵的汽车,也不会在没有进行仪器和控制面检查的情况下乘坐飞机。那么,你为什么要冒险设计一个价值数百万美元的高级节点半导体设备,而不确保你意识到并能够管理有可能成就或破坏硅产品的动态条件呢?先进的……»阅读更多

老化分析通用模型接口势头强劲


作者:Greg Curtis, Ahmed Ramadan, Ninad Pimparkar和Jung-Suk Goo 2019年2月,西门子EDA写了一篇题为“现在是通用模型接口的时候了”的文章1。从那时起,我们不断看到对老化分析的需求不断增长,不仅在传统的汽车领域,而且在其他技术设计领域,如移动通信和物联网应用……»阅读更多

电源/性能位:12月23日


大阪大学的研究人员检测电力电子设备的早期损坏。在功率循环测试期间,该团队使用声发射分析实时监测碳化硅肖特斯基二极管中裂纹的扩展。在电源循环测试中,研究人员模仿反复打开和关闭设备,以监控设备的分辨率。»阅读更多

7/5nm工艺的性能和功耗权衡


Semiconductor Engineering坐下来与Moortec的CTO Oliver King讨论电源优化;João Geada, Ansys首席技术专家;Synopsys高级工程副总裁Dino Toffolon;布赖恩·鲍耶(Bryan Bowyer),西门子(Siemens)旗下Mentor公司的工程总监;Arm物理设计集团高级营销总监Kiran Burli;Kam Kittrell,高级产品管理集团d…»阅读更多

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