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作者最新文章


超分辨率显微术


超分辨率显微镜技术增强的分辨率使以前无法实现的细胞动力学和纳米结构的成像和定量分析成为可能。下载这本电子书了解:超分辨率显微镜(SRM)用于生命科学研究的原理和优势。SRM解决的问题实现…»阅读更多

在扫描电镜上使用双源多探测器系统定量钢和合金


对钢和合金进行准确和精确的分析对于了解其机械和热性能至关重要。这些材料通常含有各种浓度的元素,低至微量ppm水平。因此,不可能用标准的扫描电子显微镜(SEM)和能量色散光谱仪来测定所有元素的浓度。»阅读更多

用PeakForce QNM原子力显微镜进行深度学习分类和建立结构性质预测


机器学习,特别是深度学习,是一种强大的工具,可以建立微观结构与体积特性之间存在(或不存在)相关性,并能够充实其他方法难以建立的关系和趋势。本应用笔记讨论了深度学习工具的使用,以探索AFM阶段和PeakForce定量纳米力学(QNM)的应用。»阅读更多

白光干涉法测量表面粗糙度的优点


测量表面粗糙度的概念起源于近一个世纪前,是为了防止制造商和买家之间的不确定性和纠纷。现在,它已经成为整个行业用于验证制造过程,确认遵守内部和监管规范,并保证最终产品的质量和性能的通用标识符。主观的……»阅读更多

原子力显微镜覆盖了聚合物表征的领域


“材料科学家为特定应用设计基于聚合物的材料,必须分析所有这些因素是如何以及为什么共同影响最终产品的。在微观层面上理解结构和性质对于完全理解材料至关重要。“每个人都想让他们的材料在宏观尺度上表现得更好,”Bede Pittenger说。»阅读更多

利用iTF分析提取低介电常数薄材料的内在力学性能


本白皮书重点介绍了优化和使用Bruker的iTF软件包来提取内在的(与衬底无关的)力学性能,特别是对于薄的低k材料。这些考虑因素分为两个主要部分:测量程序(第二节)和iTF执行(第三节)。前者概述了获得适当实验的重要方面。»阅读更多

化学实验室FT - NIR光谱分析指南


化学和石油化工行业的质量控制是一项复杂的任务。通常需要使用各种各样的仪器和复杂的工作流程来分析许多不同的参数。时间也很重要——制作团队需要在几分钟内得到结果,而不是几小时。FT-NIR可以帮助您简化实验室中的分析程序。通常,许多不同的参数可以被分析。»阅读更多

EIGER2 R 500K残余应力


许多制造过程会留下残余应力,这可能会影响制造部件的性能。压缩应力可以被设计到金属涂层中以防止裂纹扩展,而拉伸应力可以被利用来增强半导体的导电性。应变材料原子间距的变化可以通过x射线衍射(XRD)和相关的x射线衍射来检测。»阅读更多

白光干涉法对CMP过程的表征


更快的计算机和电子处理器要求集成电路(IC)具有更小的功能,这反过来又要求更小和更光滑的衬底表面。化学机械抛光(CMP)已成为最关键的半导体制造技术之一,因为它提供了一种优越的方法来去除层间介电层中不需要的表面形貌,并实现充分的封装。»阅读更多

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