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一种定制的低成本ATE测试夹具s参数验证方法


本文总结了一篇由英飞凌和Advantest在TestConX 2022上联合开发和提交的论文的内容。ATE系统的待测设备(DUT)夹具提出了几个验证挑战。用户需要快速轻松地测量DUT测试夹具,同时确保测量模拟ate到测试夹具的接口性能,并确定如何处理DUT…»阅读更多

5G毫米波设备测试前端模块开发


本文介绍了一个用于5G毫米波设备测试的前端模块的开发。5G毫米波计划使用到53 GHz频段。我们面临的挑战是优化测试系统的性能,使其达到该频段,包括宽功率范围的EVM性能,并添加新的单端口s参数测量功能。我们描述基本技术…»阅读更多

处理s参数的复杂艺术


随着制造技术的发展,集成电路设计正在加速转变。集成更多功能的需求导致了更密集的模具、多模芯片、堆叠的3D ic和先进的封装。此外,对更多更快地访问数据的增强连接的需求不断增长,继续推动技术向高…»阅读更多

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